溫度快速沖擊試驗箱

簡要描述：溫度快速沖擊試驗箱可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃/min（40℃/min）；.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求。

所屬分類：冷熱沖擊快速溫變試驗箱

更新時間：2024-05-23

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

聯(lián)系我們留言詢價

詳情介紹

品牌	SETH/賽思	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

溫度快速沖擊試驗箱賽思改變了傳統(tǒng)進行溫度循環(huán)、高低溫沖擊(2 Zoon)、高低溫+常溫沖擊(3 Zoon)、應(yīng)力篩選ESS，至少需要購買四臺設(shè)備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設(shè)備才能完成的試驗，需耗費許多添購設(shè)備&占用空間的硬件成本，一次解決您的需求，滿足不同產(chǎn)品不同試驗的多樣性與多變性，提高機臺使用的稼動率。并且不需再依不同待測品去耗費時間手動調(diào)整，我們的創(chuàng)新系統(tǒng)自動幫您搞定，賽思秉持著符合規(guī)范的原則，結(jié)合貼心的創(chuàng)新功能與技術(shù)，期待您詳細了解。

溫度快速沖擊試驗箱特點：

1.可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；2.等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃/min(40℃/min)；3.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求；4.采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行；5.除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時完成；6.通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能；7.感測器放置測試區(qū)出（回）風口符合實驗有效性；8.機臺多處報警監(jiān)測，配置無線遠程報警功能；

技術(shù)創(chuàng)新：

傳統(tǒng)設(shè)備低溫控制方式：制冷壓縮機啟停控制溫度（溫度波動大、嚴重影響壓縮機壽命，已淘汰的技術(shù)）制冷壓縮機恒定運行+加熱PID控制（導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實現(xiàn)溫度動態(tài)平衡，浪費了大量的電能）新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過PWM技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實現(xiàn)降低40%的能耗。該技術(shù)基于美國Sporlan公司定制型號的PWM控制閥：

該技術(shù)通過電磁閥的頻繁動作實現(xiàn)對各管道流量的調(diào)節(jié)，標準電磁閥不能適應(yīng)，會在很短時間出現(xiàn)金屬疲勞損壞，目前支持該技術(shù)的高性能閥門只有美國Sporlan公司生產(chǎn)的XM系列產(chǎn)品（該產(chǎn)品無法從正常渠道進口），下圖為電磁閥的區(qū)別。

可控范圍：

TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗
	28℃/min→	LED汽車照明燈
	25℃/min→	PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng)
	24℃/min→	光纖連接頭
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、汽車引擎蓋下環(huán)境)
	11℃/min→	無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試
	5℃/min→	錫須溫度循環(huán)試驗

技術(shù)規(guī)格：

型號	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
內(nèi)箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
溫度范圍	-80.00℃～+200.00℃
低溫沖擊范圍	-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃
高溫沖擊范圍	+60.00℃～+150.00℃
時間設(shè)定范圍	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
溫度波動度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
溫度偏差	≤±2℃（-65℃～+150℃）
溫度均勻度	＜2.00℃以內(nèi)
溫變速率（斜率）	+5℃～+30℃/min(+40℃)
溫變范圍	-55℃～+85℃//+125℃