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    溫度循環與溫度沖擊的不同點

    發布時間: 2025-03-20  點擊次數: 235次

    溫度循環與溫度沖擊的不同點


    溫度沖擊試驗箱技術規格:

    型號(CM)

    SET-A

    SET-B

    SET-C

    SET-D

    SET-G

    內部尺寸

    40×35×35

    50×50×40

    60×50×50

    70×60×60

    80×70×60

    外部尺寸

    140×165×165

    150×190×175

    160×190×185

    170×240×195

    180×260×200

    結構

    三廂式(預冷箱)(預熱箱)(測試箱)

    氣門裝置

    強制的空氣裝置氣門

    內箱材質

    SUS#304不銹鋼

    外箱材質

    冷軋鋼板靜電噴塑

    冷凍系統

    機械壓縮二元式 復疊制冷方式

    轉換時間

    <10Sec

    溫度恢復時間

    <5min

    溫度偏差

    ±2℃

    冷卻方式

    水冷

    駐留時間

    30 min

    溫度范圍

    預熱溫度

    +60~200℃(40min)

    高溫沖擊

    +60~150℃

    預冷溫度

    +20℃~-80℃(70min)

    低溫沖擊

    -10℃~-40℃/-55℃/-65℃

    溫度傳感器

    JIS RTD PT100Ω × 3 (白金傳感器)

    控制器

    液晶顯示觸摸屏PLC控制器

    控制方式

    靠積分飽和PID,模糊算法 平衡式調溫P.I.D + P.W.M + S.S.R

    標準配置

    附照明玻璃窗口1套、試品架2個、測試引線孔1個

    安全保護

    漏電、短路、超溫、缺水、電機過熱、壓縮機超壓、超載、過電流保護

    電源電壓

    AC380V 50Hz三相四線+接地線







    不同點:

    1. 定義

    溫度循環 :高溫和低溫之間緩慢變化,具體可參考之前的文章。

    溫度沖擊 :通過快速切換極限溫度,測試產品在劇烈溫度變化下的抗性,模擬航空航天或電子設備中的突發溫差場景。

    溫度循環與溫度沖擊的不同點

    2. 高低溫保持時間(Soak Time)

    一般達到產品熱平衡溫度即可,所以不同產品保持時間都不一樣,需根據實際(測試/摸底)情況來定義。有觀點認為溫度循環產品各個部分都需要達到熱平衡,而溫度沖擊核心區域達到熱平衡即可(俺表示不認同)。

    溫度循環 :目的:確保樣品內部達到熱平衡,以暴露累積疲勞損傷。

    影響因素:樣品質量、是否通電等。

    溫度沖擊 :目的:快速施加極限熱應力,關注瞬時失效機制。

    若產品均需達到熱平衡,則溫度沖擊高低溫保留時間應較溫度循環高低溫保留時間更短,為啥?因為溫度循環溫變速率慢,產品內部溫升較溫度沖擊高。

    溫度循環與溫度沖擊的不同點

    3. 溫變速率

    溫度循環 :較慢(≤20/分鐘),模擬實際環境中的漸變溫差。

    溫度沖擊 :很快(>30/分鐘),模擬極限環境中的驟變溫差,實際均用兩箱或三箱式溫箱,溫度切換快。

    4. 應力場景

    溫度循環 :模擬電子產品開關機、晝夜溫差等緩慢溫度變化。

    強調長期熱膨脹和收縮效應。

    溫度沖擊 :SETH/賽思檢測設備模擬從恒溫環境突然進入極限溫度(如室外極寒氣候)、設備啟動時的瞬間溫差變化、高空飛行等極限場景(回流焊、干燥、維修等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化)。

    強調瞬間熱應力集中。

    5. 測試目的

    溫度循環 :評估材料在長期使用中因熱膨脹系數(CTE-Coefficients of Thermal Expansion)不匹配導致的失效。

    關注材料的耐久性和可靠性,測試時間為數百次循環。

    溫度沖擊 :確定部件對極限溫度突變的抗性,暴露材料或工藝缺陷。

    關注產品的即時性能和結構完整性,測試時間較短。

    6. 測試原理

    溫度循環 :核心:漸變應力的累積效應。

    方法:通過緩慢溫度變化(15/min)模擬長期熱脹冷縮過程,評估材料間的熱匹配性和疲勞壽命。

    溫度沖擊 :核心:驟變應力的瞬時破壞。

    方法:通過快速溫度變化(≥30/min)引發材料內部瞬間應力集中,暴露封裝結構的脆性斷裂或界面分離缺陷。

    7.  失效模式

    溫度循環 :主要失效模式:蠕變疲勞(Creep Fatigue)、應力松弛(Stress Relaxation) 。

    典型現象:焊點開裂、引腳損壞、密封失效、PCB分層、BGA互連缺陷。

    材料問題:陶瓷與金屬界面因反復膨脹收縮產生裂紋,焊點蠕變導致電氣連接失效,環氧樹脂與陶瓷基板因CTE不匹配引發分層。

    溫度沖擊 :主要失效模式:拉伸過應力(Tensile Overstress)和 拉伸疲勞(Tensile Fatigue) 。

    典型現象:金絲鍵合點脫落、倒裝芯片凸點失效、芯片開裂、封裝開裂。

    材料問題:脆性材料直接斷裂(陶瓷外殼在驟冷驟熱下因內部應力集中直接斷裂)、界面剝離(金絲鍵合點或倒裝芯片凸點因瞬時熱應力脫離基板)、氣密性封裝泄漏(氣密性封裝(如金屬-陶瓷密封)在劇烈溫差下泄漏率超標)。

    8. 測試設備

    溫度循環 :單槽式恒溫箱,溫度在高低溫之間逐漸變化。

    溫度沖擊 :多槽式(熱/冷室)或快速過渡裝置(如氣-氣或液-液切換)。

    9. 費用與測試時間

    溫度循環 :費用較低,但整體測試時間較長(數百次至數千次循環),更多應用于溫度循環加速壽命類測試。

    溫度沖擊 :費用較高,但測試時間較短(一般到幾百次的水平)。

    10. 應用邏輯

    溫度循環 :關注長期疲勞累積,適用于壽命預測與材料優化。

    典型失效:焊點疲勞、材料老化。

    溫度沖擊 :關注工藝缺陷篩查與極限環境驗證。

    典型失效:脆性斷裂、界面剝離。

    11. 測試標準

    溫度循環 :MIL-STD-883, Method 1010,JESD22-A104,JESD22-A105,IEC 60068-2-14

    溫度沖擊 :MIL-STD-750,MIL-STD-202, Method 107,MIL-STD-810, Method 503,IEC 60068-2-14





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